Los datos sobre el impacto de la fuga residual peri-dispositivo luego de la oclusión de la oreja auricular izquierda (OAI) son limitados.
Durante la segunda jornada del Congreso ACC22 el Dr. Mohamad Alkhouli presentó un análisis basado en los datos del Registro LAAO con el objetivo de explorar la asociación de la fuga peri-dispositivo luego de la OAI con la ocurrencia de eventos clínicos adversos.
Se identificaron a los pacientes sometidos a OAI entre el 1 de enero de 2016 y el 31 de diciembre de 2019 y fueron clasificaron según el tamaño de la fuga evaluada por ecocardiograma realizado a los 45 ± 14 días en: a) ausencia de fuga, b) fuga pequeña: < 5mm y c) fuga grande: > 5 mm.
Se incluyeron 51.333 pacientes, de los cuales el 73,4% no presentaban fugas, 25,8% presentaban fugas pequeñas y 0,7% fugas grandes.
La proporción de pacientes tratados con warfarina a los 45 días fue mayor en el grupo de pacientes con fugas grandes vs a los grupos con fugas pequeñas y sin fugas (44,9%, 34,4%, 32,4%, respectivamente; p < 0,001).
A los 6 y 12 meses, la utilización de anticoagulantes disminuyó pero continuó siendo más frecuente en los pacientes con fugas grandes.
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Los eventos tromboembólicos y hemorrágicos fueron poco frecuentes en ambos los grupos.
Sin embargo, en comparación con los pacientes sin fugas, aquellos que presentaban fugas pequeñas tuvieron una probabilidad ligeramente mayor de sufrir un ACV/ataque isquémico transitorio/embolización sistémica (HR aj: 1,152; IC 95%: 1,025-1,294), sangrado mayor (HR: 1,11; IC 95%: 1,029-1,120) y cualquier evento adverso grave (HR: 1,102; IC 95%: 1,048-1,160).
No se observaron diferencias significativas en los eventos adversos entre los pacientes con fugas grandes y aquellos con fugas pequeñas o sin ellas.
¿Qué podemos recordar?
Las fugas pequeñas (<5 mm) luego de la OAI se asociaron a una incidencia ligeramente superior de eventos tromboembólicos y hemorrágicos, no así las fugas grandes (>5 mm), aunque una mayor proporción de estos pacientes se mantuvo con anticoagulación.
Los nuevos dispositivos con un mejor sellado podrían mitigar los eventos asociados a las fugas residuales.
